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8V182512IDGGREP
+BOMIC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #8V182512IDGGREP
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在庫状況5208
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仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT) |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| SupplyVoltage | 2.7V ~ 3.6V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-TFSOP (0.240, 6.10mm Width) |
