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SN74ABT18504PM
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74ABT18504PM
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データシート SN74ABT18504PM DataSheet
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パッケージ 64-LQFP
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在庫状況4505
365 日間品質保証
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1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Bulk,Tray |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 20 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |
