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SN74ABT8543DW
+BOMIC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74ABT8543DW
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データシート SN74ABT8543DW DataSheet
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在庫状況2932
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仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Bulk,Tube |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 28-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |
