画像は参考用です
SN74ABT8646DL
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
-
メーカーSTマイクロエレクトロニクス
-
メーカー品番 #SN74ABT8646DL
-
データシート SN74ABT8646DL DataSheet
-
在庫状況7326
365 日間品質保証
7*24 日間の品質保証
90-時間単位のサービス保証
1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tube |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) |
