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SN74ABTH182502APM
+BOMIC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74ABTH182502APM
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データシート SN74ABTH182502APM DataSheet
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パッケージ 64-LQFP
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在庫状況3905
365 日間品質保証
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1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tray,Tray |
| Series | 74ABTH |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Universal Bus Transceiver |
| NumberofCircuits | 18-Bit |
| Current-OutputHighLow | 32mA, 64mA |
| Voltage-Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |