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SN74ABTH182646APM
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74ABTH182646APM
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データシート SN74ABTH182646APM DataSheet
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パッケージ 64-LQFP
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在庫状況7383
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仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Bulk,Tray |
| Series | 74ABTH |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |
