画像は参考用です
SN74ABTH182652APM
+BOMIC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
-
メーカーSTマイクロエレクトロニクス
-
メーカー品番 #SN74ABTH182652APM
-
データシート SN74ABTH182652APM DataSheet
-
パッケージ LQFP-64
-
在庫状況4798
365 日間品質保証
7*24 日間の品質保証
90-時間単位のサービス保証
1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tray |
| Series | 74ABTH |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
