SN74ABTH18646APM

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SN74ABTH18646APM

+BOM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

  • メーカーSTマイクロエレクトロニクス

  • メーカー品番 #SN74ABTH18646APM

  • パッケージ 64-LQFP

  • 在庫状況9891

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7*24 日間の品質保証

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1日間のアフターサービス保証

仕様

属性
Supplier Texas Instruments
Package Tray
Series 74ABTH
ProductStatus Active
LogicType Scan Test Device With Transceivers And Registers
SupplyVoltage 4.5V ~ 5.5V
NumberofBits 18
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 64-LQFP

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