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SN74BCT8240ADW
+BOMIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74BCT8240ADW
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データシート SN74BCT8240ADW DataSheet
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パッケージ SOIC-24
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在庫状況5352
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1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tube |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with Inverting Buffers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
