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SN74BCT8373ADWR
+BOMIC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74BCT8373ADWR
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データシート SN74BCT8373ADWR DataSheet
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パッケージ SOIC-24
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在庫状況2633
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仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC |
| Package / Case | Tape & Reel (TR),Bulk |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
