画像は参考用です
SN74BCT8373ANT
+BOMIC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74BCT8373ANT
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データシート SN74BCT8373ANT DataSheet
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パッケージ DIP-24
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在庫状況8624
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1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Tube,Tube |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Through Hole |
