画像は参考用です
SN74BCT8374ADW
+BOMIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
-
メーカーSTマイクロエレクトロニクス
-
メーカー品番 #SN74BCT8374ADW
-
データシート SN74BCT8374ADW DataSheet
-
パッケージ SOIC-24
-
在庫状況7551
365 日間品質保証
7*24 日間の品質保証
90-時間単位のサービス保証
1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tube |
| Series | 74BCT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
