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SN74BCT8374ADWR
+BOMIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74BCT8374ADWR
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データシート SN74BCT8374ADWR DataSheet
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在庫状況8104
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仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tape & Reel (TR) |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |
