画像は参考用です
SN74LVTH182502APMR
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74LVTH182502APMR
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データシート SN74LVTH182502APMR DataSheet
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パッケージ LQFP-64
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在庫状況7553
365 日間品質保証
7*24 日間の品質保証
90-時間単位のサービス保証
1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT) |
| Series | 74LVTH |
| Part Status | Active |
| Logic Type | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Voltage - Supply | 2.7V ~ 3.6V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
