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SN74LVTH182646APM
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74LVTH182646APM
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データシート SN74LVTH182646APM DataSheet
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パッケージ LQFP-64
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在庫状況5462
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仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Bulk,Tray |
| Series | 74LVTH |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
| SupplyVoltage | 2.7V ~ 3.6V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |
