画像は参考用です
SN74ABT8652DW
+BOMIC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
-
メーカーSTマイクロエレクトロニクス
-
メーカー品番 #SN74ABT8652DW
-
データシート SN74ABT8652DW DataSheet
-
パッケージ SOIC-28
-
在庫状況6530
365 日間品質保証
7*24 日間の品質保証
90-時間単位のサービス保証
1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tube |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
