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SN74LVTH182502APM
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74LVTH182502APM
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データシート SN74LVTH182502APM DataSheet
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パッケージ LQFP-64
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在庫状況3276
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仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tray |
| Series | 74LVTH |
| Part Status | Active |
| Logic Type | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Voltage - Supply | 2.7V ~ 3.6V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
