画像は参考用です
SN74ABT18640DGGR
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
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メーカーSTマイクロエレクトロニクス
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メーカー品番 #SN74ABT18640DGGR
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データシート SN74ABT18640DGGR DataSheet
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パッケージ TFSOP-56
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在庫状況8004
365 日間品質保証
7*24 日間の品質保証
90-時間単位のサービス保証
1日間のアフターサービス保証
仕様
| 属性 | 値 |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT) |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
